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    基於矽中介層三維積體電路和三維記憶體修復的成本模型與分析
    Por Wu, Cheng-Wen
    Publicado em 2012
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  2. 2
    A Memory Yield Improvement Scheme Combining Built-In Self-Repair and Error Correction Code
    Por Wu, Cheng-Wen
    Publicado em 2012
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  3. 3
    The Discrete Convolution Method for Solving the Exact String Matching Problem
    Por Wu, Cheng-Wen
    Publicado em 2012
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  4. 4
    An Enhanced ECC Methodology for Low Power Pseudo-SRAM and On-Chip Pre-bond TSV Test Schemes for 3D ICs
    Por Wu, Cheng-Wen
    Publicado em 2012
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  5. 5
    A 3D Product Code for Enhancing Memory Reliability
    Por Wu, Cheng-Wen
    Publicado em 2012
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  6. 6
    Controller Design for a Low Power, Low Latency DRAM with Built-in Cache
    Por Wu, Cheng Wen
    Publicado em 2015
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  7. 7
    Failure-Pattern-Based Memory Test Data Analysis for Failure Classification and Yield Improvement
    Por Wu, Cheng-Wen
    Publicado em 2015
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  8. 8
    Test Cost Reduction Methodology for Integrated Fan-Out Wafer Level Chip Scale Package
    Por Wu, Cheng-Wen
    Publicado em 2015
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  9. 9
    A Fast Sweep-Line-Based Failure Pattern Extractor for Memory Diagnosis
    Por Wu, Cheng Wen
    Publicado em 2016
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  10. 10
    Real-Time Abnormality Detection of Automatic Test Equipment by Cloud-Based Test Yield Monitoring and Analysis
    Por Wu, Cheng Wen
    Publicado em 2016
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  11. 11
    Abnormality Detection for TSV Process in TSV-based 3D DRAM Manufacturing Process
    Por Wu, Cheng Wen
    Publicado em 2016
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  12. 12
    Efficient Probing Schemes for Fine-Pitch Pads of InFO Wafer-Level Chip-Scale Package
    Por Wu, Cheng Wen
    Publicado em 2016
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  13. 13
    Layout-Oriented Defect Set Reduction for Fast Circuit Simulation in Cell-Aware Test
    Por Wu, Cheng Wen
    Publicado em 2016
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  14. 14
    Epigenetic Switch between SOX2 and SOX9 Regulates Cancer Cell Plasticity
    Por Wu, Cheng-Wen
    Publicado em 2017
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  15. 15
    An Enhanced Boundary Scan Architecture for Inter-Die Interconnect Leakage Measurement in 2.5D and 3D Packages
    Por Wu, Cheng-Wen
    Publicado em 2017
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  16. 16
    Cost and Reliability Evaluation of Repairable Storage System by Symbiotic System Model
    Por Wu, Cheng-Wen
    Publicado em 2017
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  17. 17
    Peer-Assisted Repair Mechanism for Reliable and Cost-Effective IOT Systems
    Por Wu, Cheng-Wen
    Publicado em 2017
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  18. 18
    Defect Dictionary Generation Considering Leakage Current for Enhancing Cell-Aware Test (CAT)
    Por Wu, Cheng-Wen
    Publicado em 2016
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  19. 19
    A Leakage-Current Sensor Enhanced Memory BIST for Defect Level Reduction
    Por Wu, Cheng Wen
    Publicado em 2016
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  20. 20
    Defect Modeling, Analysis and Diagnosis for FinFET-Based SRAM
    Por Wu, Cheng-Wen
    Publicado em 2014
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